植物冠层分析仪是由托普云农研发供应的，该仪器可以测量叶面积指数、叶片平均倾角，散射辐射透光率、不同太阳高度角下的直射辐射透过率、叶面积密度的方位分布、冠层内外的光合有效辐射等。广泛应用于作物、植物群体冠层受光状况的测量分析及农业科研工作。
植物冠层分析仪能够有效地分析植被指数RVI、NDVI、作物叶层含氮量、氮积累量、叶面积指数、叶干重等，就比如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。比起传统测量法，植物冠层分析仪还能避免植被破坏的缺点，具有方便快捷、快速无损、不受时间限制、获取数据量大等优点，非常适合用于现代农业科研研究当中，目前该设备已经广泛应用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、植物群体对比与发展的教学、研究工作当中，能有效帮助人们进行科学种植、施肥，是作物处于更有利的生长态势，以达到优质高产目的。
植物冠层分析仪采用冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙的测定，计算出冠层结构参数。这是目前--上各种冠层仪都是采用的原理，在上述原理下，植物冠层分析仪采用的是对冠层下测量冠层孔隙率方法，该方法是各类方法中精确和省力、省时、快捷方便的方法。
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