X荧光光谱仪是荧光光谱仪的一种，使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作更人性化、更方便。
Think600是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验，以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成。
X荧光光谱仪技术指标
分析元素范围：硫（S）～铀（U）
同时检测元素：zui多24个元素，多达5层镀层
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）
SDD探测器：分辨率低至135eV
先进的微孔准直技术：zui小孔径达0.1mm,zui小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x575（D）x660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393（W）x258（D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/szui高速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃
X荧光光谱仪
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