XRF-1800型波长色散型X射线荧光光谱仪从仪器的硬件与软件在许多细节都进行了改进，使得仪器的可靠性与可操作性更进一步提高，增加了世界*的250μm微区分布成像分析功能，从而达到更高水平的完美程度。作为高灵敏度和微区分析的开拓者，岛津公司非常自信地向用户奉献出卓越的XRF-1800型X射线荧光光谱仪。
世界*250μm微区分布成像分析功能！
XRF-1500/1700系列X射线荧光光谱仪是在开发出微区分析/分布分析功能，并率先采用了4KW薄窗X射线管，扩大了X射线荧光分析的应用领域，作为具有革命性的仪器而得到了很高评价，业已销售200余台。
可分析不均匀样品的含量分布、强度分布。
高次谱线的判定更加准确，提高了定性定量分析的准确度/可靠性。
利用XRF-1800的高次谱线分析刹车片实例
测定高分子薄膜的膜厚与无机成分分析的背景基本参数(BG-FP)法利用康普顿散射/瑞利散射的强度比计算出荧光X射线分析不能得到的氢（H）元素的信息。高分子薄膜分析中，利用康普顿散射线的理论强度作为高分子薄膜的信息。
集成岛津技能精华的模块功能,匹配分析功能，对应于液体、粉末、固体、金属、氧化物等不同形态的样品具有相应的分析条件，在这基础上可编制佳的分析条件。可根据不同材质判定、品种分类、品种判定、一致性检索这4种匹配功能进行判定、检索。
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